Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space IV
Hoofdkenmerken
Auteur: SPIE
Redactie: SPIE
Titel: EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space IV
Uitgever: SPIE Press
ISBN: 9781628416312
Serie: Proceedings of SPIE
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 111.14
Verschijningsdatum: 30-07-2015
Bericht: Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie: Space science
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 277
Hoogte mm.: 279
Breedte mm.: 216
 

Inhoud:

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967