Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Systems Contamination Prediction, Measurement, and C
Hoofdkenmerken
Auteur: Egges, Joanne
Redactie: Egges, Joanne
Titel: Systems Contamination Prediction, Measurement, and C
Uitgever: SPIE Press
ISBN: 9781628412239
Serie: Proceedings of SPIE
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 97,10
Verschijningsdatum: 30-10-2014
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Applied optics
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 277
Hoogte mm.: 229
Breedte mm.: 152
 

Inhoud:

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact