Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Hoofdkenmerken
Auteur: Wang, Zhong Lin
Titel: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Uitgever: Cambridge University Press
ISBN: 9780521017954
Land van oorsprong: United Kingdom
Prijs: € 74,50
Verschijningsdatum: 22-08-2005
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Materials science
Geillustreerd: 10 Tables, unspecified; 95 Halftones, unspecified; 129 Line drawings, unspecified
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 460
Hoogte mm.: 244
Breedte mm.: 170
Dikte mm.: 25
Gewicht gr.: 731
 

Inhoud:

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967