Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Yield Simulation for Integrated Circuits
Hoofdkenmerken
Auteur: Walker, D.M.
Titel: Yield Simulation for Integrated Circuits
Uitgever: Kluwer Academic Publishers
ISBN: 9780898382440
Serie: The Springer International
Editie: 1987 ed.
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 203,64
Verschijningsdatum: 30-09-1987
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie: Computer-aided design (CAD)
Geillustreerd: XII, 209 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 209
Hoogte mm.: 234
Breedte mm.: 156
Gewicht gr.: 1100
 

Inhoud:

Since only half the chip area would have redundancy, I was concerned that the increase in yield would not outweigh the increased costs of testing and redundancy programming. I wanted a simulator that would allow me to evaluate the yield of arbitrary redundant layouts, hence I termed such a simulator a layout or yield simulator.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967