Hoofdkenmerken
Auteur:
Wang, Zheng; Chattopadhyay
Titel:
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Uitgever:
Springer Verlag, Singapore
ISBN:
9789811010729
ISBN boekversie:
9789811010736
Serie:
197 pages, 80 Tables, color; 72 Illustrations, color; 32 Illustrations, black and white; XX, 197 p.
Prijs:
€ 146.40
Verschijningsdatum:
05-07-2017
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau:
General (US: Trade)
Categorie:
Systems analysis & design
Geillustreerd:
80 Tables, color; 72 Illustrations, color; 32 Illustrations, black and white; XX, 197 p. 104 illus., 72 illus. in color.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Hardback
Paginas:
197
Gewicht gr.:
4557
Inhoud: This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
nl
en
