Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Electronic Thin-Film Reliability
Hoofdkenmerken
Auteur: Tu, King-Ning
Titel: Electronic Thin-Film Reliability
Uitgever: Cambridge University Press
ISBN: 9780521516136
ISBN boekversie: 9780511904134
Land van oorsprong: United Kingdom
Prijs: € 89.40
Verschijningsdatum: 25-11-2010
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Semi-conductors & super-conductors
Geillustreerd: 23 Tables, black and white; 45 Halftones, black and white; 141 Line drawings, black and white
Dewey code: 621.38152
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 412
Hoogte mm.: 254
Breedte mm.: 180
Dikte mm.: 23
Gewicht gr.: 970
 

Inhoud:

Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Beginning with core topics such as deposition and diffusion, the book fully explains irreversible processes with practical examples. Closing with failure analysis, this book is ideal for graduate students, researchers and practitioners.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967