Hoofdkenmerken
Auteur:
Williams, David B.
Titel:
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Scien
Uitgever:
Springer Nature
ISBN:
9780387765006
Vervangt ISBN:
9780306452475
Editie:
2nd ed. 2009
Land van oorsprong:
United States
Prijs:
€ 119,79
Verschijningsdatum:
01-01-2009
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau:
Professional & Vocational
Categorie:
Materials science
Geillustreerd:
LXII, 775 p.
Dewey code:
502.825
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Hardback
Paginas:
775
Hoogte mm.:
286
Breedte mm.:
213
Dikte mm.:
46
Gewicht gr.:
1952
Inhoud: The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment.
nl
en
