Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
TMap NEXT in scrum effectief testen in agile projecten TMap NEXT in scrum effectief testen in agile projecten
Hoofdkenmerken
Auteur: Aalst, Leo van der
Titel: TMap NEXT in scrum effectief testen in agile projecten
Uitgever: Kleine Uil, Uitgeverij
ISBN: 9789075414585
Editie: 1
Prijs: € 19.95
Verschijningsdatum: 11-03-2013
Bericht: Niet leverbaar - uitverkocht
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Media & computercommunicatie
Taal: Nederlands
Imprint: Sogetibooks
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 160
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967