Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Hoofdkenmerken
Auteur: Kumar Vishvakarma, Santosh
Redactie: Kumar Vishvakarma, Santosh
Titel: VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Uitgever: Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789813297661
ISBN boekversie: 9789813297678
Serie: Communications in Computer and Information Science
Editie: 2019 ed.
Land van oorsprong: Singapore
Prijs: € 134,09
Verschijningsdatum: 18-08-2019
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Computer vision
Geillustreerd: 336 Illustrations, color; 209 Illustrations, black and white
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 775
Hoogte mm.: 235
Breedte mm.: 155
 

Inhoud:

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design;
 

Inhoudsopgave:

Singapore
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967