Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Hoofdkenmerken
Auteur: Ho, Paul S.
Redactie: Ho, Paul S. (University of Texas, Austin)
Titel: Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Uitgever: Cambridge University Press
ISBN: 9781107409484
Serie: MRS Proceedings
Land van oorsprong: United Kingdom
Prijs: € 40.50
Verschijningsdatum: 05-06-2014
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Materials science
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 514
Hoogte mm.: 229
Breedte mm.: 152
Dikte mm.: 26
Gewicht gr.: 68
 

Inhoud:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact