Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition
Hoofdkenmerken
Auteur: Lee, Cheng-Chung; Wu, Kai
Titel: Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition
Uitgever: LAP Lambert Academic
ISBN: 9783659001987
Land van oorsprong: Germany
Prijs: € 65.18
Verschijningsdatum: 09-05-2012
Bericht: Leverbaar
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: General (US: Trade)
Categorie: Electricity, electromagnetism & magnetism
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 148
Hoogte mm.: 229
Breedte mm.: 152
Dikte mm.: 9
Gewicht gr.: 227
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact