Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Hoofdkenmerken
Auteur: Shen, Ruijing; Tan, Sheldon
Titel: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781489987877
Editie: 2012 ed.
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 113.12
Verschijningsdatum: 13-04-2014
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Computer architecture & logic design
Geillustreerd: 61 Tables, black and white; XXX, 306 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 306
Hoogte mm.: 235
Breedte mm.: 155
Gewicht gr.: 516
 

Inhoud:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967