Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Hoofdkenmerken
Auteur: Williams, David B.
Redactie: Williams, David B.
Titel: Transmission Electron Microscopy Diffraction, Imaging, and Spectrometry
Uitgever: Springer International
ISBN: 9783319799889
Editie: Softcover reprint of the original 1st ed. 2016
Land van oorsprong: Switzerland
Prijs: € 104.29
Verschijningsdatum: 12-06-2018
Bericht: Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Testing of materials
Geillustreerd: 300 Illustrations, black and white
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 518
Hoogte mm.: 213
Breedte mm.: 281
Dikte mm.: 34
Gewicht gr.: 1448
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact