Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Hoofdkenmerken
Auteur: Goldstein, Joseph
Redactie: Goldstein, Joseph
Titel: Practical Scanning Electron Microscopy Electron and Ion Microprobe An
Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781461344247
Editie: Softcover reprint of the original 1st ed. 1975
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 146.40
Verschijningsdatum: 12-10-2011
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Testing of materials
Geillustreerd: XVIII, 582 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 582
Hoogte mm.: 235
Breedte mm.: 155
Gewicht gr.: 914
 

Inhoud:

In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967