Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Hoofdkenmerken
Auteur: Yu, Tzu-Yang
Redactie: Yu, Tzu-Yang
Titel: Nondestructive Characterization and Monitoring of Advanced Materials, Aerospace, and Civil
Uitgever: SPIE Press
ISBN: 9781510608238
Serie: Proceedings of SPIE
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 222.28
Verschijningsdatum: 30-09-2017
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Applied optics
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 710
Hoogte mm.: 279
Breedte mm.: 216
 

Inhoud:

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact