|
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
|
| Auteur: Ruijing Shen; Sheldon X.-D. Tan; Hao Yu |
| ISBN: 9781461407881 |
|
| Prijs: € 107.90 |
| Uitgever: Springer Nature |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 173.02
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
|
| Auteur: Shen, Ruijing; Tan, Sheldon |
| ISBN: 9781461407874 |
|
| Prijs: € 173.02 |
| Uitgever: Springer-Verlag New York Inc. |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
|
| Auteur: Shen, Ruijing; Tan, Sheldon |
| ISBN: 9781489987877 |
| Prijs: € 113.12 |
| Uitgever: Springer-Verlag New York Inc. |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
nl
en