|
Electromigration in Metals
|
| Auteur: Paul S. Ho; Chao-Kun Hu; Martin Gall; Valeriy Sukharev |
| ISBN: 9781009287791 |
|
| Prijs: € 104.94 |
| Uitgever: Cambridge University Press |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 116.22
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
|
| Auteur: Paul S. Ho; âJihperng Leu; âWei William Lee |
| ISBN: 9783642559082 |
|
| Prijs: € 167.85 |
| Uitgever: Springer Nature |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 186.33
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
|
| Auteur: Ho, Paul S. |
| ISBN: 9781107409484 |
|
| Prijs: € 37.69 |
| Uitgever: Cambridge University Press |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
|
| Auteur: Ho, Paul S. |
| ISBN: 9781558992054 |
|
| Prijs: € 35.92 |
| Uitgever: Materials Research Society |
| Bericht: Tijdelijk niet leverbaar - in herdruk |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
|
| Auteur: Ho, Paul S. |
| ISBN: 9781558991194 |
|
| Prijs: € 44.32 |
| Uitgever: Materials Research Society |
| Bericht: Leverbaar |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
| Terug naar boven |
|
Electromigration in Metals Fundamentals to Nano-Interconnects
|
| Auteur: Ho, Paul S. |
| ISBN: 9781107032385 |
| Prijs: € 116.22 |
| Uitgever: Cambridge University Press |
| Bericht: Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
nl
en