Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 

Zoeken
RESULTATEN
He, Yunze
He, Yunze(1)
Yunze He; Bin Gao; Ali Sophian; Ruizhen Yang(1)
2017(2)
Langere levertijd (2-3 weken)(1)
Engineering (General)(1)
Non-destructive testing(1)
E-book(1)
Paperback / softback(1)
Elsevier S & T(1)
Elsevier Science Publishing Co(1)
Resultaat 1-2 van 2
Resultaat 1-2 van 2
Transient Electromagnetic-Thermal Nondestructive Testing
Auteur: Yunze He; Bin Gao; Ali Sophian; Ruizhen Yang
ISBN: 9780128128367
Prijs:  € 165.46
Uitgever: Elsevier S & T
Verschijningsvorm: E-book

Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor:  € 163.19
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave

Download
  
Lees meer
  
info ebook

Transient Electromagnetic-Thermal Nondestructive Testing Pulsed Eddy Current and Transient Eddy Current Thermography
Auteur: He, Yunze
ISBN: 9780128127872 Transient Electromagnetic-Thermal Nondestructive Testing Pulsed Eddy Current and Transient Eddy Current Thermography
Prijs:  € 163.19
Uitgever: Elsevier Science Publishing Co
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Verschijningsvorm: Paperback / softback


Bestellen
  
Lees meer
  

leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967