|
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
|
| Auteur: Xiong Du; Jun Zhang; Gaoxian Li; Yaoyi Yu; Cheng Qian; Rui Du |
| ISBN: 9789811931321 |
|
| Prijs: € 167.85 |
| Uitgever: Springer Nature |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 193.69
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
|
| Auteur: Du, Xiong; Zhang, Jun |
| ISBN: 9789811931345 |
| Prijs: € 193.69 |
| Uitgever: Springer Verlag, Singapore |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
|
| Auteur: Du, Xiong; Zhang, Jun |
| ISBN: 9789811931314 |
| Prijs: € 193.69 |
| Uitgever: Springer Verlag, Singapore |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
nl
en